JMP统计功能列表
| 项目 | 功能 | 项目 | 功能 | |
| 基本统计 | 描述性统计 | 模型拟合 | 分段拟合 | |
| 单样本、双样本t检验 | 样条拟合 | |||
| 配对t检验 | 随机效应模型 | |||
| 相关和协方差 | 混合模型 | |||
| 单样本方差、等方差检验 | 统一尺度估计 | |||
| 正态分布的拟合与检验 | 对数方差 | |||
| 其他主要分布的拟合与检验 | 反向预测 | |||
| 回归分析 | 线性回归 | Box Cox 转换 | ||
| 多项式回归 | 参数功效 | |||
| 多元回归 | 定制检验 | |||
| 逐步和最佳子集回归 | 时间序列分析 | 自相关 | ||
| Logistic 回归 | 偏自相关 | |||
| 偏最小二乘法 | 交叉相关 | |||
| 非线性回归 | ARIMA 分析 | |||
| 响应面回归 | 季节性 ARIMA 分析 | |||
| 正交回归 | 平滑模型 | |||
| 置信区间和预测区间 | Winter 法 | |||
| 方差分析 | 一般方差分析 | 谱密度分析 | ||
| Welch 方差分析 | 预测 | |||
| 协方差分析 | 多元分析 | 主成分分析 | ||
| 广义线性模型 | 因子分析 | |||
| 多元方差分析 | 密度椭圆 | |||
| 非平衡方差分析 | 聚类分析 | |||
| 嵌套方差分析 | 判别分析 | |||
| 平均值分析 | 项目分析 | |||
| 环图多重比较 | 对应分析 | |||
| 列联表 | 卡方分析 | 联合分析 | ||
| 对应分析 | 模拟及仿真 | 随机数据生成器 | ||
| Cochran Mantel Haenszel 检验 | 随机噪声 | |||
| 非参数分析 | Wilcoxon 检验 | 多元随机变量 | ||
| 中位数检验 | 随机抽样 | |||
| Van Der Waerden 检验 | 与建模密切整合 | |||
| Kruskal-Wallis 检验 | 样本数量和功效 | 单样本均值 | ||
| 统计量Spearman Rho | 双样本 | |||
| 统计量Kendall Tau | 多样本均值 | |||
| 统计量Hoeffding D | 单样本的方差 | |||
| 统计过程控制 | 运行图 | 单样本、双样本的比例 | ||
| 变量控制图 | 泊松分布 | |||
| 属性控制图 | 测量系统分析 | 变异源分析 | ||
| 特殊原因检验 | 量具的重复性和再现性 | |||
| 操作特性曲线 | 量具的偏倚和线性 | |||
| 时间加权控制图 | 嵌套型量具分析 | |||
| 多变量控制图 | 交叉嵌套混合的量具分析 | |||
| Levey Jennings控制图 | 属性一致性分析 | |||
| 实时控制图 过程能力分析 | Kappa 判别比率 | |||
| 试验设计 | 完全因子设计 | 可区分类别数 | ||
| 筛选设计 | 生存/可靠性分析 | 分布拟合 | ||
| 响应面设计 | WeiBayes 分析 | |||
| 混料设计 | 竞争原因估计 | |||
| 田口设计 | 参数生存模型 | |||
| 扩充设计 | 非线性参数生存模型 | |||
| 空间填充设计 | 比例危险模型 | |||
| 非线性设计 | 加速失效模型 | |||
| 定制设计 | 可修复系统的再现分析 | |||
| 公差设计 | 数据挖掘 | 决策树 | ||
| 选择设计 | 神经网络 |