• US
  • China
  • France
  • DACH
  • Italy
  • Japan
  • UK
  • 主页
  • JMP软件
    • JMP
    • JMP Pro
    • JMP Clinical
    • JMP Genomics
    • 免费试用
    • 购买JMP
    • 白皮书
    • 关于我们
  • 使用JMP
    • 应用行业
    • 应用领域
    • 学术教育
    • 客户案例
    • Capabilities
  • 新闻及活动
    • 近期活动
    • JMP新闻
    • JMP Blog
  • 用户资源
    • 技术支持
    • 专业培训
    • 交流论坛
    • Resource Center
    • File Exchange
    • User Community
  • 联系我们
  • 安装常见问题
  • 应用常见问题
  • 资料下载
  • 六西格玛菜单
  • JMP功能描述表
  • JMP统计功能列表
  • 系统要求
  • JMP出版物
  • 全球技术支持站点

JMP统计功能列表

项目 功能   项目 功能
基本统计 描述性统计 模型拟合 分段拟合
单样本、双样本t检验   样条拟合
配对t检验   随机效应模型
相关和协方差   混合模型
单样本方差、等方差检验   统一尺度估计
正态分布的拟合与检验   对数方差
其他主要分布的拟合与检验   反向预测
回归分析 线性回归   Box Cox 转换
多项式回归   参数功效
多元回归   定制检验
逐步和最佳子集回归 时间序列分析 自相关
Logistic 回归 偏自相关
偏最小二乘法 交叉相关
非线性回归 ARIMA 分析
响应面回归 季节性 ARIMA 分析
正交回归 平滑模型
置信区间和预测区间 Winter 法
方差分析 一般方差分析 谱密度分析
Welch 方差分析 预测
协方差分析 多元分析 主成分分析
广义线性模型 因子分析
多元方差分析 密度椭圆
非平衡方差分析 聚类分析
嵌套方差分析 判别分析
平均值分析 项目分析
环图多重比较 对应分析
列联表 卡方分析 联合分析
对应分析 模拟及仿真 随机数据生成器
Cochran Mantel Haenszel 检验 随机噪声
非参数分析 Wilcoxon 检验 多元随机变量
中位数检验 随机抽样
Van Der Waerden 检验 与建模密切整合
Kruskal-Wallis 检验 样本数量和功效 单样本均值
统计量Spearman Rho 双样本
统计量Kendall Tau 多样本均值
统计量Hoeffding D 单样本的方差
统计过程控制 运行图 单样本、双样本的比例
变量控制图 泊松分布
属性控制图 测量系统分析 变异源分析
特殊原因检验 量具的重复性和再现性
操作特性曲线 量具的偏倚和线性
时间加权控制图 嵌套型量具分析
多变量控制图 交叉嵌套混合的量具分析
Levey Jennings控制图 属性一致性分析
实时控制图 过程能力分析 Kappa 判别比率
试验设计 完全因子设计 可区分类别数
筛选设计 生存/可靠性分析 分布拟合
响应面设计 WeiBayes 分析
混料设计 竞争原因估计
田口设计 参数生存模型
扩充设计 非线性参数生存模型
空间填充设计 比例危险模型
非线性设计 加速失效模型
定制设计 可修复系统的再现分析
公差设计 数据挖掘 决策树
选择设计 神经网络

实用链接

下载您的JMP“六西格玛工具”菜单

如何下载、安装和激活JMP试用版

下载JMP中文版使用手册

将Excel数据导入JMP进行分析

JMP应用领域

JMP在各个行业的应用

参加专业培训课程

联系JMP中国区技术支持

JMP中国区案例库

SAS | JMP is a business unit of SAS.

  • JMP中国区 电话: 86 21 61633088 • 上海市浦东新区陆家嘴环路1233号汇亚大厦15楼
  • Terms of Use
  • Privacy Policy
  • Site Map
  • Contact