JMP® pour la fiabilité
Dans l'industrie manufacturière, que vous fabriquiez des semi-conducteurs, des ampoules électriques, des automobiles, des chaussures, des appareils médicaux ou des réacteurs – la fiabilité du produit joue un rôle crucial dans la réussite de votre entreprise. Un produit qui fonctionne comme prévu tout au long de son cycle de vie est le gage de clients satisfaits qui restent fidèles à la marque et la recommandent à d'autres.
Un produit fiable entraîne en outre une baisse des coûts de garantie, qui peuvent sinon amputer sérieusement les marges bénéficiaires. A l'inverse, une défaillance du produit, voire son rappel, entame la confiance du consommateur, nuit à votre image de marque et réduit les chances de retour du client.
La prévention des défaillances et l'amélioration de la qualité des garanties sont autant de raisons d'utiliser des techniques éprouvées pour évaluer avec précision la fiabilité de vos produits. JMP se distingue en intégrant de solides outils d'analyse statistique avec visualisation dynamique des données. Vous repérez ainsi immédiatement les tendances et les valeurs aberrantes dans des tables de données volumineuses. Résultat : vous améliorez la fiabilité des produits en identifiant les défauts dans les matériaux ou les processus, en repérant les vulnérabilités dès le stade de la conception et en trouvant des solutions appropriées.
- Distribution de survie
- Causes concurrentes
- Tests accélérés
- Analyse des dégradations
Vous souhaitez connaître la meilleure distribution à appliquer pour établir des prévisions précises sur la fiabilité de vos produits et composants ? JMP évalue automatiquement un large éventail de distributions de fiabilité afin de trouver le meilleur ajustement. Vous pouvez également recourir à des procédures non paramétriques, ou sélectionner et comparer manuellement des distributions paramétriques. JMP prend en charge toutes ces méthodes via une seule et unique plate-forme d'ajustement conviviale : Distribution de la survie. Les profileurs dynamiques de JMP vous permettent d'estimer les durées de vie de manière interactive, et de déduire les périodes futures par extrapolation.
La plate-forme Distribution de la survie permet de spécifier une distribution non paramétrique ainsi que 15 distributions paramétriques : log-normal, log-logistique Weibull, Frechet, normal, SEV, logistique, LEV, exponentiel, log-gamma généralisé, gamma généralisé, log-normale avec seuil, Weibull avec seuil, log-logistique avec seuil et Frechet avec seuil.
Si plusieurs modes de défaillance indépendants sont identifiés dans vos données, utilisez l'option de cause concurrente de la plate-forme Distribution de la survie. Elle permet d'analyser chaque cause séparément. Vous pouvez omettre certaines causes de manière interactive et évaluer l'amélioration potentielle de la qualité du produit. Grâce à cette puissante option, vous attribuez des distributions ajustées à chacun des modes de défaillance.
Les plates-formes JMP Distribution de la survie et Survie permettent d'estimer les causes concurrentes et d'évaluer les causes des défaillances.
La plate-forme Expliquer la survie par X permet de modéliser la relation entre un événement et un facteur choisi, au moyen de plusieurs transformations telles que Arrhénius, tension, linéaire, log, logit, emplacement, et emplacement et échelle.
Créez une transformation personnalisée des données et comparez plusieurs distributions sur un même niveau de facteur ou une même distribution sur plusieurs niveaux de facteurs. Vous pouvez en outre afficher les courbes de densité et les lignes de quantiles pour quatre distributions différentes de l'événement durée de vie par rapport au facteur d'accélération.
Avec la plate-forme Dégradation de JMP, analysez les données de dégradation d'un produit dans le temps pour anticiper la qualité du produit et limiter les risques. JMP permet d'analyser les données issues de tests non destructifs (analyse par mesures répétées ou analyse de stabilité) et de tests destructifs. Utilisez la plate-forme Dégradation de JMP afin d'anticiper les performances de vos produits ou composants avant qu'ils ne deviennent inefficaces (défaillance passagère) ou ne subissent une défaillance majeure.
Nombre de mécanismes de défaillance - usure de pneu, fissure, ou usure d'un laser ou d'une ampoule électrique - peuvent être mesurés et analysés quand les performances diminuent pour finalement aboutir à un défaut ou à une panne sérieuse. Générez les temps de pseudo-défaillances afin d'anticiper les performances futures.
